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儀器1:S-4300掃描電子顯微鏡

儀器:2:S-4800掃描電子顯微鏡

 

分辨率:1.5 nm(二次電子像,15kV);可對各種固體材料(高分子和復合材料、金屬、陶瓷、半導體、礦物及生物等)進行表面形貌分析,附件EDS能譜可對樣品成分進行定性半定量分析(B~U元素);配備冷凍附件,對樣品進行低溫快速冷凍制樣并在冷凍條件下進行觀察,可實現液體、半液體如囊泡、凝膠等的表面微觀形貌表征。

分辨率:1 nm(二次電子像,15 kV),1.4nm (1kV,減速模式);可對各種固體材料(高分子和復合材料、金屬、陶瓷、半導體、礦物及生物等)進行表面形貌分析,附件EDS能譜可對樣品成分進行定性半定量分析(B~U元素)。

 

儀器3:SU-8020掃描電子顯微鏡

儀器4:JEM-1011透射電子顯微鏡

分辨率:1 nm(二次電子像,15 kV),1.3nm (1kV,減速模式);可對各種固體材料(高分子和復合材料、金屬、陶瓷、半導體、礦物及生物等)進行表面形貌分析;配置Top探頭,可成電位襯度像;配置STEM探頭,可實現透射模式與掃描模式同時成像;配置附件EDS可對樣品成分進行定性半定量分析(B~U元素)。

加速電壓:100kV;燈絲種類:鎢燈絲;點分辨率:0.38 nm@100kV;可觀察樣品的內部結構,電子衍射模式可進行晶體結構分析;配置多樣品桿,一次可進兩個樣品,進出樣品速度較快,適用于高分子、納米材料、生物樣品的觀察。

儀器5:HT-7700透射電子顯微鏡

儀器6:JEM-2011透射電子顯微鏡

加速電壓:120kV;燈絲種類:鎢燈絲;點分辨率:0.33 nm@120kV;加速電壓在40kV到120kV之間可調,自動化程度高,操作相對簡單,適用于高分子、納米材料及生物樣品的觀察;采用相機取代熒光屏觀察樣品,無需在黑暗環境使用。

加速電壓:200kV;燈絲種類:LaB6燈絲;點分辨率:0.23 nm@200kV;可對樣品進行高分辨觀察,電子衍射模式可進行晶體結構分析。

 

儀器7:JEM-2100F透射電子顯微鏡

儀器8:Helios NanoLab G3 CX

聚焦離子束-電子束雙束電鏡

 

加速電壓:200kV;燈絲:熱場發射;點分辨率:0.19 nm;可對樣品進行高分辨觀察,拍攝高分辨像(HRTEM),電子衍射模式可進行晶體結構分析,應用STEM附件可得到掃描透射明場像、暗場像,能譜EDS可進行定性半定量分析及元素線掃描、面掃描分析得到元素的分布信息。

分辨率:離子束:4.0nm @ 30kV;電子束:0.8nm@15kV;可實現在掃描電鏡實時觀察下定點刻蝕與沉積;進行特定區域微/納圖案的制備(如沉積微電極等);定點制備TEM樣品;三維成像得到樣品的三維微觀結構。

 

儀器9:Ultracut超薄切片機

儀器10:LEICA EM SCD-500磁控濺射儀

用于高分子材料、納米材料、生物材料等樣品的透射電鏡樣品制備,也可用于AFM樣品的制備以及軟材料拋光等。

用于掃描電鏡樣品表面鍍導電膜,常用靶材有Pt,Au等。

 

儀器11:LEICA EM ACE-600磁控濺射儀

儀器12:LEICA EM GP 投入式快速冷凍制樣儀

&透射電鏡冷凍傳輸樣品桿

用于掃描電鏡樣品表面鍍導電膜,常用靶材有Pt,Au,C等。配置冷凍附件,可進行冷凍斷裂、升華等,與其他冷凍附件配合實現冷凍掃描電鏡觀察液相樣品的功能。

通過對樣品進行快速冷凍制樣并在冷凍條件下進行透射電鏡觀察,可實現對囊泡、膠束等樣品在液相中的結構表征。

儀器13:PDC-32C-2等離子清洗儀

儀器14:Tech cat研磨拋光機

等離子體清洗對金屬、半導體、氧化物和大多數高分子材料,如聚丙烯、聚脂、聚酰亞胺、聚氯乙烷、環氧等都能夠進行表面處理,主要應用于掃描電鏡、透射電鏡樣品的表面清潔處理及透射電鏡載網膜的表面親水化處理。

用于各類樣品的研磨拋光,配置不同粗糙度的砂紙、拋光布,用于對掃描、透射樣品的前期處理。

 

儀器15:M-POOP3慢速切割機

 

 

配置金剛石刀片,用于精密切割各種樣品,例如高分子、陶瓷、金屬等。

 

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