首頁 中心簡介 測試服務 儀器預約說明 培訓信息 分析方法及應用 文檔下載 聯系我們
《分析測試中心通訊》 《分析測試中心簡冊》
  測試服務
  通知公告 更多>>
測試儀器
人員分工
當前位置: 首頁 > 測試服務 > X射線衍射組 >

儀器1:P1多晶X-射線衍射儀

儀器2:P2多晶X-射線衍射儀

儀器(4)

儀器(5)

主要用于材料的常規XRD測試,將所得的圖譜比對于數據庫中的標準圖譜,從而判定可能的物相。樣品為粉末、塊體、薄膜和纖維等多晶類型。儀器購置于2001年,型號為日本理學D/max 2500,光源為銅轉靶類型,檢測器為閃爍計數器,左右雙測角儀,可同時測試兩個樣品,掃描方式一般為theta/2theta聯動類型。

主要用于材料的常規XRD測試,將所得的圖譜比對于數據庫中的標準圖譜,從而判定可能的物相。樣品為粉末、塊體、薄膜和纖維等多晶類型。儀器購置于2012年,型號為荷蘭帕納科Empyrean,光源為銅固定靶類型,檢測器為陣列探測器(常用于1D線探測模式),掃描方式一般為theta/theta聯動類型,一次只能測試一個樣品。除常規測試外,還可以進行透射、掠角面外測試、以及空氣敏感樣品XRD測試(測試環境為真空或氮氣)。

儀器3:P3多晶X-射線衍射儀

儀器4:單晶-2 X-射線衍射儀

儀器(6)

儀器(3)

主要用于材料的常規XRD測試,將所得的圖譜比對于數據庫中的標準圖譜,從而判定可能的物相。樣品為粉末、塊體、薄膜和纖維等多晶類型。儀器購置于2012年,型號為荷蘭帕納科Empyrean,光源為銅固定靶類型,檢測器為1D線探測器,掃描方式一般為theta/theta聯動類型,一次只能測試一個樣品。除常規測試外,還可以進行透射及變溫XRD測試(測試環境為真空或氮氣,溫度范圍從室溫到1100攝氏度)。

主要用于單晶樣品的數據采集和結構解析。測試樣品一般處于低溫下,溫度范圍一般從室溫到110 K。樣品要求為單晶體,長寬高一般200-800微米。儀器購置于2008年,型號為日本理學ST-Saturn724+,光源為鉬常規固定靶,檢測器為CCD 2D面探,測角儀為固定chi類型。

儀器5:單晶-3 X-射線衍射儀

儀器6:單晶-4 X-射線衍射儀

儀器(1)

主要用于單晶樣品的數據采集和結構解析。測試樣品一般處于低溫下,溫度范圍一般從室溫到110 K。樣品要求為單晶體,長寬高一般50-200微米。儀器購置于2008年,型號為日本理學MM007HF,光源為鉬微焦斑轉靶,檢測器為Hybrid-CMOS 2D面探,測角儀為固定chi類型。

主要用于單晶樣品的數據采集和結構解析。測試樣品一般處于低溫下,溫度范圍一般從室溫到110 K。樣品要求為單晶體,長寬高一般50-200微米。儀器購置于2018年,型號為日本理學Synergy-R,光源為銅微焦斑轉靶,檢測器為Hybrid-CMOS 2D面探,測角儀為固定kappa類型。

 

版權所有 © 中國科學院化學研究所分析測試中心
地址:北京市海淀區中關村北一街2號 郵編:100190
 
红黑大战-红黑大战技巧 -红黑大战app