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分析測試中心論壇——近常壓XPS/STM/PEEM技術在材料原位表征方面的應用交流研討會
發布時間:2019-10-14  |  點擊次數:342次

傳統X射線光電子能譜(XPS)方法必須在超高真空環境下對無揮發的固體材料進行表面化學分析,其測試條件與研究體系的真實環境及表面狀態存在差距,這對于諸如催化材料的原位研究會有較大影響。相比于傳統XPS技術,近常壓X射線光電子能譜(NAP-XPS)技術突破了從超高真空到近常壓的“壓力鴻溝”,可以在近常壓的條件下于不同反應氣氛中進行光電子能譜測試,還打破了真實研究體系的限制,將XPS技術延伸應用至液態環境、氣體環境以及很多常見環境下的生物和材料樣品檢測,是原位研究催化、能源、環境、生物等領域的有力手段。結合了近常壓掃描隧道顯微鏡與光發射電子顯微鏡(NAP-STM/PEEM)技術,甚至可以在分子尺度上研究表面催化、薄膜生長等。

為促進化學所在表面化學物理、環境、催化、電池等研究領域相關科研人員與技術人員的交流,更好地為我所的科研工作服務,分析測試中心電子能譜組將于20191016日上午8:305號樓100會議室舉辦“近常壓XPS/STM/PEEM技術在材料原位表征方面的應用交流研討會”。本次研討會將邀請國內相關應用領域的專家以及德國SPECS公司的應用技術專家就近常壓原位表征技術及應用等方面進行交流與討論,歡迎老師和同學們關注參會!

會議時間:20191016日(周三)上午8:30

會議地點:中國科學院化學研究所5號樓100會議室,

聯系人:趙老師,章老師,聯系方式,62553516

 

 

時間

報告人/單位

報告內容
08:30-09:30

Dr. Liana Socaciu-Siebert/SPECS公司

NAP-XPS/STM Instrumentation and Applications

09:30-10:30

周雄 高級工程師/中科合成油技術有限公司

近常壓原位表征技術在模型催化研究中的應用

10:30-10:40

10:40-11:40

寧艷曉 副研究員/中科院大連化物所

近常壓光發射電子顯微鏡(NAP-PEEM)的研制與應用

 

 

 

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