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單晶數據收集技巧之切割晶體減少吸收效應
發布時間:2016-03-02  |  【打印】 【關閉

     在單晶衍射中,晶體對X-射線的吸收是降低數據質量的主要因素之一,因此一般單晶衍射的原始數據都需要做吸收校正處理,然后才可以進行隨后的結構解析。吸收校正的常見類型有經驗吸收校正和數值吸收校正兩種。當晶體里所含元素的原子序號比較小時,如碳、氫、氮和氧等元素,晶體對X-射線的吸收較小,那么原始數據做了經驗吸收校正通常就可以,且晶體的形狀對數據的影響很小,就是說不管晶體是塊狀或片狀,還是條狀,對數據收集及結果通常影響不大。當晶體里含有對X-射線吸收較大的元素,且該元素含量較高時,那么經驗吸收校正就不合適了,一般需要做數值吸收校正,這個時候晶體的外形對吸收的影響較大,從而對衍射數據產生的影響也較大。當原始數據做了數值吸收校正后的結果仍然不理想時,則需要考慮晶體外形的影響,要盡量挑選塊狀的晶體。若吸收大的元素在整個結構里占得比重較大,且晶體是條狀或片狀,一定要將晶體的長寬高三個方向盡量切割均勻以后再上機測試。

 

  詳情見http://www.cfdxbyy.com/Downing/201632163735935.pdf

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